IntelliSEM

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IntelliSEM™ Análisis Automático de Partículas para Microscopios Electrónicos de Barrido (SEM) combina tecnología SEM de última generación proveniente de los fabricantes más respetados de la industria, con software de automatización de vanguardia de RJ Lee Group. Desarrollado por nuestros científicos basándose en su experiencia trabajando con nuestros clientes para resolver sus problemas más desafiantes, IntelliSEM ofrece automatización, revisión de datos e interpretación de datos en un solo paquete. La experiencia IntelliSEM abarca hardware SEM, software de automatización y soporte continuo de RJ Lee Group, compartiendo una gran cantidad de conocimientos y asistiendo con cualquier desafío que pueda surgir. Cuando eliges IntelliSEM, no solo obtienes un producto; estás ganando una asociación con un grupo de expertos apasionados comprometidos a impulsar tu investigación o proyecto a nuevas alturas.

ParticleID

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PARTICLEID es el software propietario de RJ Lee Group diseñado para la identificación y caracterización automatizada de partículas utilizando tecnología avanzada de microscopía electrónica de barrido (SEM) y espectroscopía de rayos X dispersiva de energía (EDS). Este software sobresale en la detección, clasificación y análisis de partículas basándose en su tamaño, forma y composición elemental, proporcionando resultados rápidos y precisos. Ideal para aplicaciones en monitoreo ambiental, higiene industrial y control de calidad, PARTICLEID simplifica los complejos procesos de análisis de partículas, ofreciendo a los usuarios conocimientos precisos sobre las propiedades de los materiales y la identificación de contaminantes, mejorando en última instancia la toma de decisiones y el cumplimiento de las normas regulatorias.

SEAMS

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SEAMS (Análisis de Materiales mediante Microscopía Electrónica de Barrido) es el software especializado del Grupo RJ Lee diseñado para mejorar el análisis de materiales a través de la microscopía electrónica de barrido automatizada (SEM). SEAMS agiliza la adquisición, procesamiento e interpretación de datos SEM, proporcionando herramientas avanzadas para el análisis microestructural, la identificación de defectos y la caracterización de superficies. Con características como el ensamblaje automático de imágenes, el mapeo de datos y la integración del análisis elemental, SEAMS permite a los usuarios analizar eficientemente materiales complejos con alta precisión y reproducibilidad. Este software es ideal para investigadores, ingenieros y profesionales de control de calidad que buscan optimizar sus flujos de trabajo SEM y obtener una comprensión más profunda de las propiedades de los materiales.