SEAMS (Análisis de Materiales mediante Microscopía Electrónica de Barrido) es el software especializado del Grupo RJ Lee diseñado para mejorar el análisis de materiales a través de la microscopía electrónica de barrido automatizada (SEM). SEAMS agiliza la adquisición, procesamiento e interpretación de datos SEM, proporcionando herramientas avanzadas para el análisis microestructural, la identificación de defectos y la caracterización de superficies. Con características como el ensamblaje automático de imágenes, el mapeo de datos y la integración del análisis elemental, SEAMS permite a los usuarios analizar eficientemente materiales complejos con alta precisión y reproducibilidad. Este software es ideal para investigadores, ingenieros y profesionales de control de calidad que buscan optimizar sus flujos de trabajo SEM y obtener una comprensión más profunda de las propiedades de los materiales.