IntelliSEM™ Análisis Automático de Partículas para Microscopios Electrónicos de Barrido (SEM) combina tecnología SEM de última generación proveniente de los fabricantes más respetados de la industria, con software de automatización de vanguardia de RJ Lee Group. Desarrollado por nuestros científicos basándose en su experiencia trabajando con nuestros clientes para resolver sus problemas más desafiantes, IntelliSEM ofrece automatización, revisión de datos e interpretación de datos en un solo paquete. La experiencia IntelliSEM abarca hardware SEM, software de automatización y soporte continuo de RJ Lee Group, compartiendo una gran cantidad de conocimientos y asistiendo con cualquier desafío que pueda surgir. Cuando eliges IntelliSEM, no solo obtienes un producto; estás ganando una asociación con un grupo de expertos apasionados comprometidos a impulsar tu investigación o proyecto a nuevas alturas.