SEAMS (Scanning Electron Analysis for Materials Science) ist die spezialisierte Software der RJ Lee Group, die entwickelt wurde, um die Materialanalyse durch automatisierte Rasterelektronenmikroskopie (REM) zu verbessern. SEAMS rationalisiert die Erfassung, Verarbeitung und Interpretation von REM-Daten und bietet fortschrittliche Werkzeuge für die mikrostrukturelle Analyse, Fehlererkennung und Oberflächencharakterisierung. Mit Funktionen wie automatischem Bildzusammenfügen, Datenabbildung und Integration der Elementaranalyse ermöglicht SEAMS den Benutzern, komplexe Materialien effizient mit hoher Präzision und Reproduzierbarkeit zu analysieren. Diese Software ist ideal für Forscher, Ingenieure und Fachleute der Qualitätskontrolle, die ihre REM-Arbeitsabläufe optimieren und tiefere Einblicke in Materialeigenschaften gewinnen möchten.