IntelliSEM

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IntelliSEM™ Analisi Automatica delle Particelle per Microscopi Elettronici a Scansione (SEM) combina la tecnologia SEM all'avanguardia proveniente dai produttori più rispettati del settore, con il software di automazione all'avanguardia del gruppo RJ Lee. Creato dai nostri scienziati basandosi sulla loro esperienza nel lavorare con i nostri clienti per risolvere i loro problemi più impegnativi, IntelliSEM offre automazione, revisione dei dati e interpretazione dei dati in un unico pacchetto. L'esperienza IntelliSEM comprende hardware SEM, software di automazione e supporto continuo dal gruppo RJ Lee, condividendo una vasta conoscenza e assistendo con qualsiasi sfida possa sorgere. Quando scegli IntelliSEM, non stai solo ottenendo un prodotto; stai acquisendo una partnership con un gruppo di esperti appassionati impegnati a portare la tua ricerca o progetto a nuovi livelli.

ParticleID

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PARTICLEID è il software proprietario di RJ Lee Group progettato per l'identificazione e la caratterizzazione automatica delle particelle utilizzando la microscopia elettronica a scansione avanzata (SEM) e la spettroscopia a dispersione di energia dei raggi X (EDS). Questo software eccelle nel rilevare, classificare e analizzare le particelle in base alla loro dimensione, forma e composizione elementare, fornendo risultati rapidi e accurati. Ideale per applicazioni nel monitoraggio ambientale, igiene industriale e controllo qualità, PARTICLEID semplifica i complessi processi di analisi delle particelle, offrendo agli utenti intuizioni precise sulle proprietà dei materiali e sull'identificazione dei contaminanti, migliorando in ultima analisi il processo decisionale e la conformità agli standard normativi.

SEAMS

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SEAMS (Scanning Electron Analysis for Materials Science) è il software specializzato del gruppo RJ Lee progettato per migliorare l'analisi dei materiali attraverso la microscopia elettronica a scansione automatizzata (SEM). SEAMS semplifica l'acquisizione, l'elaborazione e l'interpretazione dei dati SEM, fornendo strumenti avanzati per l'analisi microstrutturale, l'identificazione dei difetti e la caratterizzazione delle superfici. Con funzionalità come la cucitura automatica delle immagini, la mappatura dei dati e l'integrazione dell'analisi elementare, SEAMS consente agli utenti di analizzare in modo efficiente materiali complessi con alta precisione e riproducibilità. Questo software è ideale per ricercatori, ingegneri e professionisti del controllo qualità che desiderano ottimizzare i loro flussi di lavoro SEM e ottenere approfondimenti più profondi sulle proprietà dei materiali.