SEAMS (Scanning Electron Analysis for Materials Science) è il software specializzato del gruppo RJ Lee progettato per migliorare l'analisi dei materiali attraverso la microscopia elettronica a scansione automatizzata (SEM). SEAMS semplifica l'acquisizione, l'elaborazione e l'interpretazione dei dati SEM, fornendo strumenti avanzati per l'analisi microstrutturale, l'identificazione dei difetti e la caratterizzazione delle superfici. Con funzionalità come la cucitura automatica delle immagini, la mappatura dei dati e l'integrazione dell'analisi elementare, SEAMS consente agli utenti di analizzare in modo efficiente materiali complessi con alta precisione e riproducibilità. Questo software è ideale per ricercatori, ingegneri e professionisti del controllo qualità che desiderano ottimizzare i loro flussi di lavoro SEM e ottenere approfondimenti più profondi sulle proprietà dei materiali.