SEAMS (Scanning Electron Analysis for Materials Science) est le logiciel spécialisé du groupe RJ Lee conçu pour améliorer l'analyse des matériaux grâce à la microscopie électronique à balayage automatisée (SEM). SEAMS rationalise l'acquisition, le traitement et l'interprétation des données SEM, offrant des outils avancés pour l'analyse microstructurale, l'identification des défauts et la caractérisation de surface. Avec des fonctionnalités telles que l'assemblage d'images automatisé, la cartographie des données et l'intégration de l'analyse élémentaire, SEAMS permet aux utilisateurs d'analyser efficacement des matériaux complexes avec une grande précision et reproductibilité. Ce logiciel est idéal pour les chercheurs, ingénieurs et professionnels du contrôle qualité cherchant à optimiser leurs flux de travail SEM et à obtenir des informations plus approfondies sur les propriétés des matériaux.